泽丰（ZENFOCUS）与MultiLane就高速ATE测试方案签署战略合作协议 泽丰（ZENFOCUS）与MultiLane就高速ATE测试方案签署战略合作协议
2023年3月18日，上海泽丰半导体科技有限公司（以下简称“泽丰”）与MultiLane Inc.（以下简称“Multilane”）签署了《战略合作框架协议》。双方本着互惠互利、实现双赢的目标，在平等自愿的前提下就高速ATE测试方案达成战略合作。
泽丰（ZENFOCUS）创立于2015年，是一家以中国为基地、面向全球提供高端半导体测试接口综合解决方案的高新技术企业，每年投入营业收入15%以上的研发费用，打造世界一流的高性能芯片测试产品和服务。公司当前聚焦半导体测试板、MEMS探针卡和高密度多层陶瓷基板，通过独立自主的研发、生产和销售，向全球集成电路芯片设计公司、封装测试厂、晶圆制造厂提供极具竞争力的高端产品和高质量服务，全面赋能半导体产业的快速健康发展，打造从概念到产品到外包的一站式综合服务平台。
MultiLane总部位于黎巴嫩，创立于2006年，作为高速测试行业的领导者，MultiLane将其领先的误码仪和数字采样示波器集成到Advantest 的 V93000 ATE 测试机台，扩展了ATE机台数字和模拟验证，以及产线测试性能。高度集成的BERT和DSO提供32个通道的测试能力，最高可达112 Gbps PAM4和50 GHz输入带宽。利用这一独特的集成方案，MultiLane的设备可以进行数字和模拟FT以及CP 测试,包括serdes测试、发射机、放大器、具有高速 I/O 的 ASIC 以及其他有源和无源高速设备。以太网、HDMI 2、USB 3/4、PCIe 5/6、光纤通道等测试都可以支持。BERT 和示波器还可用于 IC 验证、检定和生产测试。
其中针对TIA的CP和FT测试方案，目前已经成功运用于全球领先的TIA芯片制造商产线测试，产线普及率遍及北美，新加坡，马来西亚，台湾。国内也已经有领先的TIA芯片厂商开始引入此方案进行小批量生产测试,ATE自动化测试方案，完美解决了TIA CP测试中探测的难点问题。
泽丰基于MultiLane平台开发出了完整的FT/CP高速ATE测试方案，方案中应用到的关键部件均为泽丰自研，包含MEMS探针和电测探针，该技术方案可以充分满足ATE测试中对于“高速”的需求，帮助合作伙伴提升ATE测试效率，降低测试成本。
通过本次战略合作协议的签署，泽丰与MultiLane建立了牢固的合作关系，双方未来将进一步深化合作，为中国客户提供优质的高速ATE测试解决方案。
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